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书名: 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
ISBN: 978-7-111-52184-6
作 者: (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 ; 续海涛等译
出版社: 机械工业出版社
出版日期: 2016
简 介
书名: 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
ISBN: 978-7-111-52184-6
作 者: (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 ; 续海涛等译
出版社: 机械工业出版社
出版日期: 2016