图书名：微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统= Reliability of microtechnology : interconnects, devices and systems 978-7-03-037606-0 9787030376060 作者：(瑞典) Johan Liu ... [等] 著 ; 郭福, 马立民译

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书名: 微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统= Reliability of microtechnology : interconnects, devices and systems

ISBN: 978-7-03-037606-0

作者: (瑞典) Johan Liu ... [等] 著 ; 郭福, 马立民译

出版社: 科学出版社

出版日期: 2013

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