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书名: 温度对微电子和系统可靠性的影响
ISBN: 978-7-118-05484-2
作 者: (美)Pradeep Lall，(美)Michael G. Pecht，(美)Edward B. Hakim著
出版社: 国防工业出版社
出版日期: 2008
简 介
书名: 温度对微电子和系统可靠性的影响
ISBN: 978-7-118-05484-2
作 者: (美)Pradeep Lall，(美)Michael G. Pecht，(美)Edward B. Hakim著
出版社: 国防工业出版社
出版日期: 2008