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书名: 半导体器件及电路的可靠性与退化
ISBN: 7-03-001164-3
作 者: (英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)主编
出版社: 科学出版社
出版日期: 1989
简 介
书名: 半导体器件及电路的可靠性与退化
ISBN: 7-03-001164-3
作 者: (英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)主编
出版社: 科学出版社
出版日期: 1989